モノづくりで注目を浴びるのは設計やプロセスという技術分野ですが、開発の方向性の正しさを示す技術は、計測・分析という評価技術です。言い換えれば、“ 評価は開発の羅針盤 ”です。例えば、最先端の半導体の開発には、材料からデバイスまでの原子レベルの評価技術によって成り立っています。今回、原子間力顕微鏡や走査プローブ顕微鏡による原子レベルの計測技術の研究を進めている本学教員と半導体や燃料電池はじめナノマテリアル材料などの原子レベルの分析を行っている企業による講演を開催します。
◆「原子間力顕微鏡の基礎とその最新展開」
本学先端理工学部 電子情報通信課程 准教授 宮戸 祐治
◆ 「非破壊イメージング装置を用いた観察事例の紹介」
東芝ナノアナリシス株式会社 評価解析技術センター
半導体評価試験ラボ 主務 博士(工学) 鈴木 一博
【開催日時】 2022年6月22日(水) 13:30~15:00
【開催方法】 オンライン開催(ライブ配信)
【申込方法】下記、参加申込サイトからお申込みください。
【参 加 費】無料
【申込〆切】2022年6月17日(金)
こちらのサイト(https://event.rec.seta.ryukoku.ac.jp/biz-net-202201/ )からお申し込みください。
【お問い合わせ先】 REC滋賀 (077-543-7743) E-mail :rec@ad.ryukoku.ac.jp